OPERATIONAL KPI
CTQ 측정 시 계측기 Capa. 부족 등의 이유로 Sampling 측정을 하고 있어, 불량발생 위험군을 놓치고 불량 발생 이후에야 확인되는 구조다.
개념

VM(Virtual Metrology)은 전수 측정을 할 수 없는 제조 환경에서 신뢰성 있는 측정 데이터를 생성하기 위한 제조 가상 계측 시스템이다. 최적의 공정 조건 유지를 위하여 미래의 계측 데이터를 예측하고 검증할 수 있는 제조 지능화 솔루션이며, 수집된 데이터를 기반으로 사용자들이 가상계측모델링을 만들고 검증(시뮬레이션)하며 최종 모델링을 배포할 수 있는 통합 Pipeline으로 발전되어야 한다.
가상 계측을 통한 제품의 품질 예측이 필요하다 — 제품/모델 별 가상 계측 값 생성 & CTQ 이상감지와 공정 조건 자동 보정.
활용 시나리오
Quote·인증
- “VM시스템을 통해 AI 기반 품질 예측 및 자동 보정을 통한 공정 능력 향상을 경험하고 끝내 고객 공감상을 수상할 수 있었습니다.” – 2024 LG Awards — 디스플레이 A사 DX 담당자
Type B 기준 필수 요소입니다. 원본 자료 확보 후 채웁니다 — 빈 섹션은 화면에 노출하지 않습니다.
도해 가로형 브로슈어(국문 57면) 면 p20 · 원고 content/solutions-v2/vm.md · AI 초안 · 검수 전 · 담당 검토 필요